High-Resolution Atomic Force Microscope
生产厂家：岛津
仪器型号：SPM-9700HT PLUS
仪器简介
高分辨率原子力显微镜具备完善的形貌表征模式和机械性能测试功能，可在纳米尺度实现对样品表面形貌、力学性能和电学特性的综合表征。系统配备环境控制舱和溶液池，支持在液体环境、温控条件和湿度控制下进行原位观测，满足各种复杂环境下的纳米级表面分析需求。
配置的自动进针系统和一键扫描功能简化操作流程，配合多通道数据采集和先进分析软件，为材料表面研究提供完整的纳米表征解决方案。
主要技术参数
1.分辨率：XY ≤ 0.2 nm，Z ≤ 0.01 nm（可观测云母原子图像）
2.扫描范围：XY ≥ 10 μm，Z ≥ 1 μm
3.噪音水平：≤ 0.05 nm
4.工作模式
形貌表征：接触模式、动态模式、相位成像、水平力模式
性能测试：力曲线、力调制、电流扫描、电势扫描
5.环境控制
温度控制：室温～300℃（样品台）
湿度控制：5%～60% RH
溶液环境：培养皿型溶液池，支持液体中扫描
6.控制系统：8通道同步测量，扫描像素≥2048×2048
7.自动化功能：全自动趋近样品（最小步长≤22 nm），一键扫描
应用领域
纳米材料表面形貌分析、生物大分子观测、材料力学性能测试、电学特性表征，广泛应用于材料科学、生物技术、半导体研究等领域的纳米级表面分析。
